type-C母座在射頻連接器市場的占有量還是很大的。Type-C母座的首要功效是為機器設備提供電源充電和進行傳輸數據，可是總的來說Type-C的普及并非很廣。
大家通對TYPE-C母座進行模擬仿真實驗可以獲得特性阻抗、插損、回損和串損等要素的模擬仿真數據信息，通過對結果的充足剖析以后，發覺導致射頻連接器母座信號完整性問題的首要因素是：特性阻抗起伏過大，較小值偏小，回波損耗偏大。因而，在優化TYPE-C母座時可以從對這兩方面的優化下手。
針對TYPE-C母座在數據信號傳送流程中產生的特性阻抗偏小，回波損耗稍大的問題，實質上還是特性阻抗不持續的問題。依據模擬仿真實驗的結果發現，射頻連接器的公頭與母頭相接處構造的問題造成了數據信號傳送發現異常，因此優化電連接器公頭與母頭的觸碰部分的構造是處理該電連接器信號完整性問題的重要。由于電極連接線的特性阻抗是與容抗、感抗高精密有關，因此大家要想提升TYPE-C母座的特性阻抗值得話，需根據下列這兩種方法來進行：
1、通過更改影響TYPE-C母座感抗的技術參數來提升感抗；
2、通過更改影響母座容抗的技術參數來減少容抗。
而充分考慮電感器主要是受同軸電纜中間的間隔影響，因此假如要對影響電感器的參數進行優化，那么就必須更改線間隔，那樣會促使TYPE-C母座的實體模型造成非常大的更改，同時也會對電連接器造成大量的意想不到的問題。
因此，大家在具體優化C型USB母座時，要充分考慮各個方面問題，不然便會發生瞻前顧后的狀況。